涂鍍層測(cè)厚儀主要用于金屬材料表面涂鍍層厚度的測(cè)量，一般常采用無損檢測(cè)方法。但是，由于測(cè)量對(duì)象、測(cè)量方法、測(cè)量環(huán)境、儀器設(shè)備等因素引進(jìn)了諸多測(cè)量誤差，為確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確可靠，有必要對(duì)其進(jìn)行不確定度分析。
鍍層厚度的測(cè)試方法按照測(cè)試方法的基本原理類型可以分為化學(xué)法、電化學(xué)法和物理法三大類。其中，⑴化學(xué)法包括化學(xué)溶解分析法、化學(xué)溶解稱重法和化學(xué)溶解液流計(jì)時(shí)法；⑵電化學(xué)法包括電化學(xué)陽(yáng)極溶解法(庫(kù)侖法)；⑶物理法包括直接測(cè)量法和儀器測(cè)量法(磁性法、非磁性法、X射線法和電鏡法等)。
鍍層厚度的測(cè)試方法也可以按照測(cè)試結(jié)果對(duì)鍍層是否破壞分為破壞法和非破壞法兩大類。其中，⑴破壞法包括點(diǎn)滴法、液流法、電量法和金相法；⑵非破壞法包括量具法、質(zhì)量法和儀器測(cè)量法。
鍍層測(cè)厚儀--鍍層測(cè)厚儀技術(shù)指標(biāo)
1.滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
2.φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
3.高精度移動(dòng)平臺(tái)可準(zhǔn)確定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm
4.采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度
5.定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
6.鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)
7.高分辨率探頭使分析結(jié)果更加準(zhǔn)確
8.良好的射線屏蔽作用
9.測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)
